X光粉末繞射儀(XRPD)

儀器中文名稱：X光粉末繞射儀
儀器英文名稱：X-RAY POWDER DIFFRACTOMETER
儀器英文簡稱：XRPD

儀器設備說明：

儀器開放年度：2009年
廠牌及型號：Rigaku（Japan）_ TTRAX Ⅲ
重要規格：
1. 18KW Rotating Anode Cu Target
主要附件：
1. 薄膜立面繞射分析套件（In-plane Unit）
2. 薄膜量測套件（Thin Film Unit）
3. 小角度散射量測套件（SAXS Unit）
4. 單色器（Ge220 Channel Cut Crystal）
儀器性能：
除了一般傳統X光繞射量測實驗，可作材料之晶體結構（Phase ID）、晶格常數（Lattice Parameter）、定性分析（Crystal Qualitative Analysis）之外，本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體，可針對多層薄膜作膜厚（Thinckness）、密度（Density）；針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚（Thinckness）、組成比（Compound Ratio）分析。

收費標準﹕

計畫付費: 廣角粉末繞射(WAG)
1.自行操作：80元/件 + 120元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作：100元/件 + 120元/時段 (3hr/時段)

低掠角薄膜繞射(GIXRD)
1.自行操作：300元/小時 + 250元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作：350元/小時 + 250元/時段 (3hr/時段)

In-Plane薄膜繞射
1.自行操作：300元/小時 + 250元開機費 (最低收費750元)
2.委託操作：350元/小時 + 250元開機費 (最低收費750元)
非計畫付費: 廣角粉末繞射(WAG)
1.自行操作：1,600元/件 + 750元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作：1,600元/件 + 750元/時段 (3hr/時段)

低掠角薄膜繞射(GIXRD)
1.自行操作：2,500元/件 + 2,000元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作：2,500元/件 + 2,000元/時段 (3hr/時段)

In-Plane薄膜繞射
1.自行操作：2,500元/小時 + 2,000元開機費 (最低收費7,500元)
2.委託操作：2,500元/小時 + 2,000元開機費 (最低收費7,500元)

連絡資訊：
儀器指導教授：廖建能教授
TEL：(03)5715131 Ext.33843 (Lab：33860)
E-MAIL：cnliao@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員：林政佑先生 / Mr. Cheng Yu Lin
TEL：(03)5715131Ext.35415 FAX：(03)5722366
E-MAIL：xrpd_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點：國立清華大學材料科技館材料所125室

其它相關資訊：PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、預期回件時間、參考資料)

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