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X光粉末繞射儀(XRPD)


 
儀器中文名稱:X光粉末繞射儀
儀器英文名稱:X-RAY POWDER DIFFRACTOMETER
儀器英文簡稱:XRPD
儀器設備說明:
  • 儀器開放年度:2009年
  • 廠牌及型號:Rigaku(Japan)_ TTRAX Ⅲ
  • 重要規格:
    1. 18KW Rotating Anode Cu Target
  • 主要附件:
    1. 薄膜立面繞射分析套件(In-plane Unit)
    2. 薄膜量測套件(Thin Film Unit)
    3. 小角度散射量測套件(SAXS Unit)
    4. 單色器(Ge220 Channel Cut Crystal)
  • 儀器性能:
    除了一般傳統X光繞射量測實驗,可作材料之晶體結構(Phase ID)、晶格常數(Lattice Parameter)、定性分析(Crystal Qualitative Analysis)之外,本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體,可針對多層薄膜作膜厚(Thinckness)、密度(Density);針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚(Thinckness)、組成比(Compound Ratio)分析。

 

111年1月份起收費標準﹕
計畫付費
廣角粉末繞射(WAG)
1.自行操作:80元/件 + 120元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作:100元/件 + 120元/時段 (3hr/時段)
低掠角薄膜繞射(GIXRD)
1.自行操作:300元/小時 + 250元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作:350元/小時 + 250元/時段 (3hr/時段)
In-Plane薄膜繞射
1.自行操作:300元/小時 + 250元開機費 (最低收費750元)
2.委託操作:350元/小時 + 250元開機費 (最低收費750元)
非計畫付費
廣角粉末繞射(WAG)
1.自行操作:1,600元/件 + 750元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作:1,600元/件 + 750元/時段 (3hr/時段)
低掠角薄膜繞射(GIXRD)
1.自行操作:2,500元/件 + 2,000元/時段 (3hr/時段)
2.委託操作:2,500元/件 + 2,000元/時段 (3hr/時段)
In-Plane薄膜繞射
1.自行操作:2,500元/小時 + 2,000元開機費 (最低收費7,500元)
2.委託操作:2,500元/小時 + 2,000元開機費 (最低收費7,500元)

 

連絡資訊:
儀器指導教授:蔡哲正 教授
TEL:(03)5715131 Ext.33861 (Lab:33862)
E-MAIL:cjtsai@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員:葉宜華 小姐 / Ms. Yi-Hua Yeh
TEL:(03)5715131Ext.35415 / 35257 FAX:(03)5722366
E-MAIL:xrpd_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點:國立清華大學材料科技館材料所125室
其它相關資訊:PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、預期回件時間、參考資料)

 

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