場發射掃描穿透式-球差修正電子顯微鏡(UHRTEM)

儀器中文名稱：場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
儀器英文名稱：Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
儀器英文簡稱：ULTRA-HRTEM

儀器設備說明：

儀器開放年度：2011年
廠牌及型號：日本JEOL, JEM-ARM200FTH
重要規格：
1. 加速電壓： 200 kV, 80 kV
2. 電子光源：Cold Field Emission Gun (CFEG)
3. 雙傾斜試片座，試片傾斜角度：±25°
4. STEM球差修正器(Spherical-aberration Corrector)
5. STEM HAADF檢測器 ( High Angle Annual Dark Field Detector)
6. 解析度： TEM resolution:
  Point image resolution:0.19 nm
  
  Lattice image resolution:0.10 nm
  
  information limit: 0.10 nm
  
  STEM(UHR) resolution:
  
  Bright-field lattice image resolution:0.136 nm
  
  Dark-field lattice image resolution:0.08 nm
主要附件：
1. X光能量散佈分析儀(EDS) : Si drift detector (SDD) (LN2 free), 80mm² active area 。
2. Resolution：≦129ev

收費標準﹕

計畫付費: A.時段收費：
   *上、下午時段：2,250元(委託服務3小時、自行操作4小時)，超時費用：750元/小時。
   *晚上時段(7小時)：3,300元，超時費用：525元/小時。

B.分析收費：
   *數位式影像：23元/張
   *點/全能譜定性分析：105元/次
   *線分析：180元/次
   *面分析：180元/次
   *半定量分析：188元/點
非計畫付費: A.時段收費：
   *上、下午時段：22,500元 (委託服務3小時、自行操作4小時)，超時費用：7,500元/小時。
   *晚上時段(7小時)：33,000元，超時費用：5,250元/小時。

B.分析收費：
   *數位式影像：225元/張
   *點/全能譜定性分析：1,050元/次
   *線分析：1,800元/次
   *面分析：1,800元/次
   *半定量分析：1,875元/點; 註1：上年度，期刊若有列名為共同作者，時段費用折扣為一篇8折，三篇7折，五篇以上5折。
註2：上年度，期刊若有致謝者，時段費用折扣為一篇9折，三篇8折，五篇以上7折。

連絡資訊：
儀器指導教授：陳力俊教授
TEL：(03)5715131 ext.31166 FAX：(03)5722366
E-MAIL：ljchen@mx.nthu.edu.tw

儀器指導教授：呂明諺教授
TEL：(03)5715131 ext.33818 FAX：(03)5722366
E-MAIL：mylu@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員：陳永昇先生 / Mr. Yung-Sheng Chen
TEL：(03)5715131 ext.35424 / 33898 Fax：(03)5722366
E-MAIL：uhrtem_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點：國立清華大學奈微與材料科技中心合金鋼廠電子顯微鏡實驗室

其它相關資訊：PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、儀器開放時間、使用管理辦法)

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