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場發射掃描穿透式-球差修正電子顯微鏡(UHRTEM)


 
儀器中文名稱:場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
儀器英文名稱:
Spherical-aberration Corrected Field Emission TEM
儀器英文簡稱:
ULTRA-HRTEM
儀器設備說明:
  • 儀器開放年度:2011年
  • 廠牌及型號:日本JEOL, JEM-ARM200FTH
  • 重要規格:
    1. 加速電壓: 200 kV, 80 kV
    2. 電子光源:Cold Field Emission Gun (CFEG)
    3. 雙傾斜試片座,試片傾斜角度:±25°
    4. STEM球差修正器(Spherical-aberration Corrector)
    5. STEM HAADF檢測器 ( High Angle Annual Dark Field Detector)
    6. 解析度: TEM resolution:
      Point image resolution:0.19 nm
      Lattice image resolution:0.10 nm
      information limit: 0.10 nm
      STEM(UHR) resolution:
      Bright-field lattice image resolution:0.136 nm
      Dark-field lattice image resolution:0.08 nm
  • 主要附件:
    1. X光能量散佈分析儀(EDS) : Si drift detector (SDD) (LN2 free), 80mm2 active area 。
    2. Resolution:≦129ev

 

111年1月份起收費標準﹕
計畫付費
A.時段收費:
*上、下午時段:2,250元(委託服務3小時、自行操作4小時),超時費用:750元/小時。
*晚上時段(7小時):3,300元,超時費用:525元/小時。
B.分析收費:
*數位式影像:23元/張
*點/全能譜定性分析:105元/次
*線分析:180元/次
*面分析:180元/次
*半定量分析:188元/點
非計畫付費
A.時段收費:
*上、下午時段:22,500元 (委託服務3小時、自行操作4小時),超時費用:7,500元/小時。
*晚上時段(7小時):33,000元,超時費用:5,250元/小時。
B.分析收費:
*數位式影像:225元/張
*點/全能譜定性分析:1,050元/次
*線分析:1,800元/次
*面分析:1,800元/次
*半定量分析:1,875元/點

註1:上年度,期刊若有列名為共同作者,時段費用折扣為一篇8折,三篇7折,五篇以上5折。
註2:上年度,期刊若有致謝者,時段費用折扣為一篇9折,三篇8折,五篇以上7折。

 

連絡資訊:
儀器指導教授:
陳力俊 教授
TEL:
(03)5715131 ext.31166 FAX:(03)5722366
E-MAIL:
ljchen@mx.nthu.edu.tw

儀器指導教授:
呂明諺 教授
TEL:
(03)5715131 ext.33818 FAX:(03)5722366
E-MAIL:
mylu@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員:
張嫈梅 小姐 / Ms. Yin-Mei Chang
TEL:
(03)5715131 ext.35424或33898 Fax:(03)5722366
E-MAIL:
uhrtem_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點:
國立清華大學奈微與材料科技中心合金鋼廠電子顯微鏡實驗室
其它相關資訊:PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、儀器開放時間、使用管理辦法)

 

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