高解像能電子顯微鏡(HRTEM)

儀器中文名稱：高解像能電子顯微鏡
儀器英文名稱：HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
儀器英文簡稱：HRTEM

儀器設備說明：

儀器開放年度：2017年
廠牌及型號：日本JEOL JEM-F200
重要規格：
1. 加速電壓：200KV and 80KV
2. 電子槍形式 : 場發射(冷場), Cold Field Emission Gun
3. TEM Point resolution : 0.19nm@200KV
4. TEM lattice resolution : 0.10nm@200KV and 0.14nm@80KV
5. STEM Lattice resolution : 0.14nm@200KV and 0.31nm@80KV
6. STEM Detectors : DF, BF(ABF) and BEI
7. 雙傾斜試片座

收費標準﹕

計畫付費: 1.電子顯微鏡：5,000元(委託3hr/時段、自行4hr/時段)
2.每一試片收基本費用：2,800元
3.EDS：點分析280元/次
線分析560元/次
面分析560元/次
4.EELS輕元素定性，能量過濾影像定性分析：700元/半小時。
5.數位式影像：60元/每張
6.Ion/Plasma cleaner：50元/次
非計畫付費: 1.電子顯微鏡：25,000元(委託3hr/時段、自行4hr/時段)
2.每一試片收基本費用：14,000元
3.EDS：點分析1,400元/次
線分析2,800元/次
面分析2,800元/次
4.EELS輕元素定性，能量過濾影像定性分析：3,500元/半小時。
5.數位式影像：300元/每張
6.Ion/Plasma cleaner：250元/次; 舉例：
1.委託操作時段：2個樣品(2,800元/試片*2)+3點EDS(280元*3)=6,440元
2.委託操作時段：使用費總額低於5,000元，則收5,000元/時段費用。

註：提供使用費折扣方式如下，並請將論文電子檔email給技術員，及告知我們刊載的著作題目
、期刊、卷數、頁數及年份。
1.「誌謝處」提及(一篇論文使用費可連續3次打9折，以年結算。)
2.列技術人員為「共同作者」(一篇論文使用費可連續3次打7.5折，以年結算。)

連絡資訊：
儀器指導教授：闕郁倫教授
TEL：(03)5715131 ext.33965
E-MAIL：ylchueh@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員：余宜真小姐 / Ms. Yi-Jen Yu
TEL：(03)5715131 ext.33891
E-MAIL：hrtem_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點：國立清華大學材料實驗館110室

其它相關資訊：PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、使用管理辦法)

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