場發射電子微探儀(FE-EPMA)

儀器中文名稱：高解析度場發射電子微探儀
儀器英文名稱：High Resolution Hyper Probe JXA-iHP200F
儀器英文簡稱：FE-EPMA

儀器設備說明：

儀器開放年度：2020年
廠牌及型號：日本 JEOL，JXA-iHP200F
重要規格：
1. 8個分析單晶 TAP,LDEB,LIF,LIFH,PETL,PETH,LDE1H,LDE2H
2. 定性分析Be(4)~U(92)
3. 定量分析 Be(4)~U(92)
4. 標準樣品
  現有Cr,Mg,Fe,Al,Ni,Si,Cu,Ti,ZrO2,Zr,Mo,Cd,W,Au,Ta,SiC,Si3N4,AlN,BaTiO3,
  Mo,Co,Mn,Y,Bi,Ag,Sb,V,C,B,C,ZnAs2,Pt,Pd,Nb,SiO2,Al2O3,MgO,TiO2,
  GaAs,SmF3,CdS,Ge,SrTiO3,Bi4Ge3O12,GeS,Zn,LiF,DyF,Pb,Cr2O3,YbF,
  FeO,FeCr2O4,Sn,GaP,Te,HgTe,Th,Hf,ZnO,InP,Rh,CdSe,EuF3,ErF3,Ru,
  PbO,Se,NdF3,BN,CaF2,Y2O3,KCl,CaMoO4,TiO,TiN,Fe2O3,FeS,ZnS,
  Y3Al5O12,Ag2S,BaF2,LaB6,TbSi2,PbTe
主要附件：
1. 工作站級電腦
儀器性能：可做X光微區定性、定量分析與二次電子成像（SEI），
反射電子成像（BEI），線掃瞄（line scanning, line profile），
與區域分析（color mapping）等。

111年1月份起收費標準﹕

計畫付費: 1.使用時間以三小時為單元，收費1,000元。
2.電腦定性分析壹次500元。(包括輕型元素)
3.定量分析壹個點基本價200元。(三種元素以內以基本價計算，三個元素以上每多一個元素多100元)
4.line profile(三個元素以內)基本價500元，每超過一個元素再加100元。
5.Color mapping(二個元素以內，以不超過256*256為基準)基本價1,000元，每超過一個元素再加500元。
6.SEI、BEI照片一張各50元。
7.鍍碳一個樣品300元。
非計畫付費: 1.使用時間以三小時為單元，收費10,000元。
2.電腦定性分析壹次3000元。(包括輕型元素)
3.定量分析壹個點，(三個元素以內)基本價2,000元，每超過一個元素再加1,000元。
4.X-ray mapping與line profile(三個元素以內)基本價3,000元，每超過一個元素再加500元。
5.Color mapping(三個元素以內，以不超過256*256為基準)基本價6,000元，每超過一個元素再加1,000元。
6.SEI、BEI照片一張各400元。
7.鍍碳或鍍白金，每個3,000元。

連絡資訊：
儀器指導教授：杜正恭教授
TEL：(03)5715131 Ext.31164 或 5712686
E-MAIL：jgd@mx.nthu.edu.tw

儀器指導教授：陳柏宇教授
TEL：(03)5715131 Ext.33889 / 33896
E-MAIL：poyuchen@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員：蔡淑月小姐 / Ms. Su-Yueh Tsai
TEL：(03)5715131 Ext.35414
E-MAIL：sytsai@mx.nthu.edu.tw
儀器放置地點：國立清華大學材料科技館112室

其它相關資訊：實驗室網站連結 (委託操作者之使用規定、使用執照考試規則、
自行操作辦法、試片處理流程)

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