跳到主要內容區

 

場發射電子微探儀(FE-EPMA)

jpg
 
儀器中文名稱:場發射電子微探儀
儀器英文名稱:High Resolution Hyper Probe JXA-iHP200F
儀器英文簡稱:FE-EPMA

儀器設備說明:

  • 儀器開放年度:2020年
  • 廠牌及型號:日本 JEOL,JXA-iHP200F
  • 重要規格:
  1. 8 個分析單晶 PETL, LIF, TAP, LDEB, PETH, LIFH, LDE1H, LDE2H
  2. 定性分析 Be(4)~U(92)
  3. 定量分析 Be(4)~U(92)
  4. 標準樣品:現有

Be, BN, C, F, Mg, Al, Si, S, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ge, GaAs, Se, Zr,  Nb, Mo, Ru, Rh, Pd, Ag, Cd, InP, Sn, Sb, Te, BaF2, Hf, Ta, W, Re, Os, Ir, Pt, Au,  Hg, PbS, Bi, Th, U

BeO, Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5, SO3, ClO, CaO, TiO2, Cr2O3, FeO, Fe2O3SrO, Y2O3, Cs2O, PbO, La2O3, Ce2O3, Pr2O3, Nd2O3, Sm2O3, Gd2O3, ThO2, CO2, K2O, MnO, NiO, Rb2O, BaO2, Eu2O3, Tb2O3, Dy2O3, Er2O3, UO2

低碳鋼系列 SRM661~665 (含有C, Mn, P, S, Si)

不鏽鋼系列 SRM845~850 (含有Mn, Si, Cu, Ni, Cr)

  • 主要附件:工作站級電腦
  • 儀器性能:可做二次電子成像(SEI)、反射電子成像(BEI)、X光微區定性、                             定量分析、線掃描(line scanning)與區域分析(color mapping)等。
 
收費標準﹕

4小時為一個單位計算,不滿4小時以4小時計算。

(使用時段前一小時進行送樣及抽真空,正式上機3小時。)

計畫付費
1.委託操作基本費:2,400/時段,超時費用:500/小時
2.自行操作基本費用:2,000/時段,超時費用:500/小時
3.鍍碳:一個樣品300
 
非計畫付費
1.委託操作基本費:10,000/時段
2.鍍碳:一個樣品3,000

 

 

連絡資訊:
儀器指導教授:杜正恭教授
TEL:(03)5715131 Ext.31164 或 5712686
E-MAIL:jgd@mx.nthu.edu.tw


儀器指導教授:陳柏宇教授
TEL:(03)5715131 Ext.33889
E-MAIL:poyuchen@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員:蕭筑云小姐 / Ms. Chu-Yun Hsiao
TEL:(03)5715131 Ext.35414
E-MAIL:epma_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點:國立清華大學材料科技館112室
其它相關資訊:PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、儀器開放時間與使用管理辦法)

 

瀏覽數: