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場發射電子微探儀(FE-EPMA)

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儀器中文名稱:高解析度場發射電子微探儀
儀器英文名稱:High Resolution Hyper Probe JXA-iHP200F
儀器英文簡稱:FE-EPMA
儀器設備說明:
  • 儀器開放年度:2020年
  • 廠牌及型號:日本 JEOL,JXA-iHP200F
  • 重要規格:
    1. 8個分析單晶 TAP,LDEB,LIF,LIFH,PETL,PETH,LDE1H,LDE2H
    2. 定性分析Be(4)~U(92)
    3. 定量分析 Be(4)~U(92)
    4. 標準樣品
      現有Cr,Mg,Fe,Al,Ni,Si,Cu,Ti,ZrO2,Zr,Mo,Cd,W,Au,Ta,SiC,Si3N4,AlN,BaTiO3,
      Mo,Co,Mn,Y,Bi,Ag,Sb,V,C,B,C,ZnAs2,Pt,Pd,Nb,SiO2,Al2O3,MgO,TiO2,
      GaAs,SmF3,CdS,Ge,SrTiO3,Bi4Ge3O12,GeS,Zn,LiF,DyF,Pb,Cr2O3,YbF,
      FeO,FeCr2O4,Sn,GaP,Te,HgTe,Th,Hf,ZnO,InP,Rh,CdSe,EuF3,ErF3,Ru,
      PbO,Se,NdF3,BN,CaF2,Y2O3,KCl,CaMoO4,TiO,TiN,Fe2O3,FeS,ZnS,
      Y3Al5O12,Ag2S,BaF2,LaB6,TbSi2,PbTe
  • 主要附件:
    1. 工作站級電腦
  • 儀器性能:可做X光微區定性、定量分析與二次電子成像(SEI),
    反射電子成像(BEI),線掃瞄(line scanning, line profile),
    與區域分析(color mapping)等。

 

111年1月份起收費標準﹕
計畫付費
1.使用時間以三小時為單元,收費1,000元。
2.電腦定性分析壹次500元。(包括輕型元素)
3.定量分析壹個點基本價200元。(三種元素以內以基本價計算,三個元素以上每多一個元素多100元)
4.line profile(三個元素以內)基本價500元,每超過一個元素再加100元。
5.Color mapping(二個元素以內,以不超過256*256為基準)基本價1,000元,每超過一個元素再加500元。
6.SEI、BEI照片一張各50元。
7.鍍碳一個樣品300元。
非計畫付費
1.使用時間以三小時為單元,收費10,000元。
2.電腦定性分析壹次3000元。(包括輕型元素)
3.定量分析壹個點,(三個元素以內)基本價2,000元,每超過一個元素再加1,000元。
4.X-ray mapping與line profile(三個元素以內)基本價3,000元,每超過一個元素再加500元。
5.Color mapping(三個元素以內,以不超過256*256為基準)基本價6,000元,每超過一個元素再加1,000元。
6.SEI、BEI照片一張各400元。
7.鍍碳或鍍白金,每個3,000元。

 

連絡資訊:
儀器指導教授:杜正恭教授
TEL:(03)5715131 Ext.31164 或 5712686
E-MAIL:jgd@mx.nthu.edu.tw


儀器指導教授:陳柏宇教授
TEL:(03)5715131 Ext.33889 / 33896
E-MAIL:poyuchen@mx.nthu.edu.tw

儀器管理員:蔡淑月小姐 / Ms. Su-Yueh Tsai
TEL:(03)5715131 Ext.35414
E-MAIL:sytsai@mx.nthu.edu.tw
儀器放置地點:國立清華大學材料科技館112室
其它相關資訊:實驗室網站連結 (委託操作者之使用規定使用執照考試規則
                                                     自行操作辦法試片處理流程)

 

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