HTREM-備份
儀器中文名稱：高解像能電子顯微鏡
儀器英文名稱：HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
儀器英文簡稱：HRTEM |
儀器設備說明：
- 儀器購置年月：1989年9月（2017年11月汰舊換新）
- 儀器經費來源：科技部/國立清華大學
- 廠牌及型號：日本JEOL JEM-F200
- 重要規格：
- 加速電壓：200KV and 80KV
- 電子槍形式 : 場發射(冷場), Cold Field Emission Gun
- TEM Point resolution : 0.19nm@200KV
- TEM lattice resolution : 0.10nm@200KV and 0.14nm@80KV
- STEM Lattice resolution : 0.14nm@200KV and 0.31nm@80KV
- STEM Detectors : DF, BF(ABF) and BEI
- 雙傾斜試片座
- 功能：
- 觀察材料之高分辨結構以供檢測晶體的原子結構及缺陷
- 可做微區繞射分析(範圍<1 nm)化學元素成份分析及定量分析(C5~U92)
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收費標準：(每年依使用狀況調整)
- 學界使用費用 (計劃付款)
TEM(委託) 一時段(3HR) 18000元
TEM(自行) 一時段(4HR) 18000元
每一試片收基本費用是10000元
EDS：點分析1000元/次，線分析2000元/次，面分析2000元/次。
EELS 輕元素定性，能量過濾影像 定性分析2500元/半小時，
數位式影像：每張200元。
- 業界使用費用 (現金收費)
派人員學習 5萬元/人(包括10次訓練時段)
如自行帶樣品需取數據 將酌收數費用如下
每一試片收基本費用是10000元。
EDS：點分析1000元/次，線分析2000元/次，面分析2000元/次。
EELS 輕元素定性，能量過濾影像 定性分析2500元/半小時，
數位式影像：每張200元。
自行操作5次(含)以上 使用費打8折
自行操作10次(含)以上 使用費打6折
- 共同優惠方案
0000~0400 使用費打85折、0400~0800使用費打9折
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連絡資訊：
儀器指導教授：闕郁倫 教授
TEL：(03)5715131 ext.33965
E-MAIL：ylchueh@mx.nthu.edu.tw
儀器管理員：余宜真 小姐
TEL：(03)5715131 ext.33891 或 35386
E-MAIL：hrtem_nscric@my.nthu.edu.tw
儀器放置地點：國立清華大學材料實驗館110室 |
| 其它相關資訊：PDF下載 (服務項目、申請服務辦法、使用管理辦法) |
