testteste
瀏覽數:
分享
1111111
搜尋儀器:
| 國立清華大學貴重儀器使用中心各項儀器服務項目 | |
| - | 最後更新日期﹕110年10月18日 |
|---|---|
| 化學組 | |
| 儀器名稱 | 服務項目 |
| - | - |
| SolidNMR 固態核磁共振光譜儀 |
1、1D,2D光譜及變溫實驗,以量測化合物分子結構的定性、定量分析。 2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的有機、無機、生化、高分子、高能材料、染料、醫藥、沸石結構晶體和進行材料相轉變及土壤地質成份等的研究。 |
| - | - |
| NMR500 高磁場核磁共振儀 |
1、1D,2D光譜,擴散係數及變溫實驗。 2、量測化合物分子結構。 3、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、染料、製藥等等的樣品。 |
| - | - |
| NMR700 超高磁場核磁共振儀 |
1、量測可溶化學溶劑的化合物分子結構1D,2D,3D的光譜。 2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成高分子、染料、製藥等的樣品。 |
| - | - |
| HPLC/MS-MS 高性能液相層析串聯質譜儀 |
1、定性分析﹕一般高、低解析化合物分子量測定,搭配紫外光偵測器。 2、定量分析﹕ (1)、建立定量方法﹕利用HPLC/MS建立定量方法。 (2)、檢量線分析﹕將不同已知濃度之標準品進行檢測。 |
| - | - |
| HRMS 高解析質譜儀 |
1、EI,FAB游離法之一般解析度質譜測定。 2、EI,FAB游離法之高解析度質譜測定及計算精確分子量和分子式。 3、應用在各界有機無機合成,藥化,天然物,材料,觸媒,農化,醫學,生化等樣品。 |
| - | - |
| TOF-SIMS 二次離子質譜儀 |
1、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。 2、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。 3、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。 |
| - | - |
| EPR 電子順磁共振光譜儀 |
主要測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜 1、測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜。 2、120K-373K變溫測量。 3、在汞燈照射下自由基的生成衰變情形。 4、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、電子、環工等等的樣品。 |
| - | - |
| FTIR 霍氏轉換紅外光譜儀 |
1、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。 2、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。 3、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。 |
| - | - |
| SXRD X光單晶繞射儀 |
1、晶格常數測定。 2、單晶繞射數據收集。 3、晶體結構解析。 |
| - | - |
| TA 熱分析設備 |
1、TGA/DSC分析﹕測試材料熱穩定性、有機無機組成比例、熱裂解溫度、裂解動力學、材料熔點、玻璃轉化溫度、熔點、熱焓。 2、TGA-GCMS﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的質譜圖,可選取特定溫度點進行質譜解析,透過資料庫比對解析未知物成分,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。 3、TGA-FTIR﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的紅外光譜圖,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。 |
| - | - |
| HRXPS 高解析電子能譜儀 |
儀器為PHI Quantera II,其X-ray最小直徑可達7.5µm,搭配二次電子影像圖,可以精準量測到特定的樣品區域。 1、材料表面分析﹕全譜圖測量(Survey Scan,提供定性分析)及單元素細掃(narrow scan,用於定量分析及化學位移分析),樣品載台為7.5cmx7.5cm,樣品送測數量可接受多達20個(建議樣品尺寸小於1cm以下)。 2、縱深分析(Depth profile),提供Ar及GCIB (Ar Gas Cluster Ion Beam) 兩種離子源濺蝕。使用Ar濺蝕,樣品約可測量3~6個/次(視薄膜厚度及待測元素多寡而定),GCIB則限制送測2個/次。 3、元素分析影像圖Mapping,測量樣品區域之元素分佈影像。 4、Angle resolved analysys,角度為5º~90º,改變不同之角度,可以得到不同深度之圖譜。此分析之樣品載台較小,可接受之樣品為6~8個。 |
| - | - |
| ICP-OES 感應耦合電漿放射光譜儀 |
1、能快速測定樣品中主、副成分及微量成分之元素濃度。 2、全波長連續光譜/所有譜線同步讀取。 3、波長範圍-167-785nm。 4、不需氮氣吹掃光學系統即可分析低波長。 5、採冷椎介面(CCI)移除電漿尾部低溫干擾區之設計。 6、全自動火炬X、Y軸調整功能。 |
| - | - |
| ICP-MS 感應耦合電漿質譜分析儀 |
1、在複雜的樣品基質中,能增强干擾消除,提高元素的檢測限,可快速分析樣品中各種微量元素之濃度及同位素之測定。 2、半定量分析﹕提供元素的濃度範圍,如0.1ppb-100ppb。 3、定量分析﹕提供樣品準確的分析數據。 4、同位素測定﹕提供微量元素的同位素比。 5、可測定75個元素,有60個以上元素的偵測極限可低達0.01ppb。 |
| - | - |
| 材料組 | |
| 儀器名稱 | 服務項目 |
| - | - |
| FE-EPMA 場發射電子微探儀 |
1、表面形貌、表面起伏之照片或原子序對比成像之照片。 (1)、SEI(Secondary Electron Image)影像﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。 (2)、BEI-Compo(Backscattered Electron Image-composition)影像﹕呈現畫面中原子序之明暗對比。 (3)、BEI-Topo(Topography)﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。 2、EPMA分析﹕次微米等級之空間解析度下,可進行定性、半定量分析、元素分布分析(線掃描、區域掃描、X-ray color mapping)、元素組成定量分析。 |
| - | - |
| XRPD X光粉末繞射儀 |
1、材料之晶體結構(Phase ID)、晶格常數(Lattice Parameter)、定性分析(Crystal Qualitative Analysis)。 2、本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體,可針對多層薄膜作膜厚(Thinckness)、密度(Density);針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚(Thinckness)、組成比(Compound Ratio)分析。 |
| - | - |
| Nano-Auger 奈米級歐傑電子能譜儀 |
1、Auger表面定性分析(Survey Scan)﹕鑑定樣品表面元素成份。 2、Auger表面定量分析(Multiplex Scan)﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。 3、微區分析﹕分析樣品表面微小區域元素成份(可達奈米尺度)。 4、元素影像掃描(Mapping)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。 5、表面線掃描分析(Line Scan)﹕樣品表面線掃描分析。 6、縱深分析(Depth Profile)﹕樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。 7、Fracture分析﹕破裂面cross section分析。 |
| - | - |
| ESCA 化學分析電子能譜儀 |
1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。 2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。 3、ESCA化學位移 (chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。 4、ESCA depth profile (縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。 5、ESCA C60 depth profile﹕以C60離子蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。 6、ESCA Mapping (元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。 7、ESCA Line Scan (線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。 8、ESCA變溫分析﹕-120° C ~ +500° C變溫分析。 9、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valance band和功函數。 |
| - | - |
| UHRTEM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡 |
1、提供200KV及80KV低加速電壓樣品分析。 2、顯微結構分析;電子繞射圖分析;高解析原子成像分析。TEM及STEM明、暗視野影像(STEM Mode: 0.1 nm or less,at 200 KV)。 3、電子能量散譜儀EDS可進行材料微區之定性與半定量及點、線、面元素分佈分析。 |
| - | - |
| HRTEM 高解像能電子顯微鏡 |
1、高解析穿透式電子顯微鏡影像(HRTEM)﹕解析度達0.10nm,可有效分辨繞射成像晶面之面間距差異。 2、掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)﹕操作電壓200KV影像解析度達0.14nm,可獲取原子等級之高解析影像。 3、能量散佈分析儀(EDS)﹕可提供微區分析元素的定性及半定量mapping/linescan分析。 4、電子能量損失能譜(EELS)﹕可提供輕元素定性分析。 |
| - | - |
| SPM 掃描探針顯微鏡 |
1、樣品表面形貌、薄膜厚度與粗糙度量測。 2、樣品表面電性(EFM、TUNA、KPFM)、磁性(MFM)與壓電性質量測(PFM)、力曲線量測(QNM)。 3、PL、Raman光譜量測與Mapping、時間解析PL量測;SPM整合光學分析量測。 |
| - | - |
| HRFEGSEM 高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡 |
1、FEG-SEM 比較傳統 SEM,在光源(FEG)和透鏡系統的改良,可有更佳的表面形貌影像分辨率,加上 EDX 附件可作微區成份分佈的分析。 2、加速電壓﹕0.1kV ~ 30kV。 3、電子光源﹕In-lens Schottky Field Emission Electron Gun。 4、放大倍率﹕x 10 ~ x 1000k。 5、SEI解析度﹕1.0 nm (at 15kV)、1.3 nm (at 1kV)。 |
| - | - |
| 物理組 | |
| 儀器名稱 | 服務項目 |
| - | - |
| SQUID 超導量子干涉元件磁量儀 |
1、超導材料、磁性材料、順磁或逆磁之磁性測量。 2、定磁場下之磁化強度測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。 3、定溫下之磁滯曲線測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。 |
| - | - |
| LIQHE 氦液化系統 |
1、提供穩定液態氦。 2、回收氣體純化至4N5。 3、液氦桶槽抽真空及降溫。 |
| - | - |
| 生科組 | |
| 儀器名稱 | 服務項目 |
| - | - |
| BioNMR850 生物型核磁共振儀 |
20 Tesla 超導磁場,氫核子共振頻率為850 MHz 1、Triple resonance probe with gradient 1H 13C 15N (5mm)。 2、Cryo Probe。 |
| - | - |
| BioTEM 生物型穿透式電子顯微鏡 |
1、一般生物樣品包括細胞、細菌、生物組織、檢體、病毒與蛋白質等,經由負染色或樣品前置處理、超薄切片後,做顯微影像觀察。 2、高分子、有機材料、複合材料、金屬、奈米粒子及薄膜試片等之微細結構觀察。 3、在室內光線下以CCD觀察,數位照相系統直接影相擷取、無須沖片。 |
| - | - |
| MCI-Xray X光生物巨分子單晶繞射儀 |
1、測量生物巨分子(蛋白質)單晶繞射數據,用以分析蛋白質之結構。 |
| - | - |
| CMS 共軛焦顯微鏡系統 |
1、螢光標定之玻片樣本影像擷取、螢光三維影像擷取、縮時影像擷取。 2、大範圍拼圖影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取。 3、活細胞控溫系統、長時間自動追焦攝影、技術員偕同操作影像擷取服務。 |
| - | - |
服務項目一覽表
本中心服務項目一覽表|
-
- 儀器代碼 NMR000200
- 儀器名稱 SolidNMR 固態核磁共振光譜儀
- 服務項目
- 1、1D,2D光譜及變溫實驗,以量測化合物分子結構的定性、定量分析。
2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的有機、無機、生化、高分子、高能材料、染料、醫藥、沸石結構晶體和進行材料相轉變及土壤地質成份等的 - 研究。
-
- 儀器代碼 NMR001200
- 儀器名稱 NMR500 高磁場核磁共振儀
- 服務項目
- 1、1D,2D光譜,擴散係數及變溫實驗。
2、量測化合物分子結構。
3、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、染料、製藥等等的樣品。
-
- 儀器代碼 NMR000004600
- 儀器名稱 NMR700 超高磁場核磁共振儀
- 服務項目
- 1、量測可溶化學溶劑的化合物分子結構1D,2D,3D的光譜。
2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成高分子、染料、製藥等的樣品。
-
- 儀器代碼 MS006700
- 儀器名稱 HPLC/MS-MS 高性能液相層析串聯質譜儀
- 服務項目
- 1、定性分析﹕一般高、低解析化合物分子量測定,搭配紫外光偵測器。
2、定量分析﹕
(1).建立定量方法﹕利用HPLC/MS建立定量方法。
(2).檢量線分析﹕將不同已知濃度之標準品進行檢測。
-
- 儀器代碼 MS001300
- 儀器名稱 HRMS 高解析質譜儀
- 服務項目
- 1、EI,FAB游離法之一般解析度質譜測定。
2、EI,FAB游離法之高解析度質譜測定及計算精確分子量和分子式。
3、應用在各界有機無機合成,藥化,天然物,材料,觸媒,農化,醫學,生化等樣品。
-
- 儀器代碼 MS000900
- 儀器名稱 TOF-SIMS 二次離子質譜儀
- 服務項目
- 1、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
2、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
3、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
-
- 儀器代碼 EPR000700
- 儀器名稱 EPR 電子順磁共振光譜儀
- 服務項目
- 主要測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜
1、測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜。
2、120K-373K變溫測量。
3、在汞燈照射下自由基的生成衰變情形。
4、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、電子、環工等等的樣品。
-
- 儀器代碼 VM000300
- 儀器名稱 FTIR 霍氏轉換紅外光譜儀
- 服務項目
- 1、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
2、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
3、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
-
- 儀器代碼 XRD003500
- 儀器名稱 SXRD X光單晶繞射儀
- 服務項目
- 1、晶系、晶格常數的測定。
2、初步結構鑑定。
3、單晶繞射數據的測定。
4、晶體結構解析。
-
- 儀器代碼 TA000200
- 儀器名稱 TA 熱分析設備
- 服務項目
- 1、TGA/DSC分析﹕測試材料熱穩定性、有機無機組成比例、熱裂解溫度、裂解動力學、材料熔點、玻璃轉化溫度、熔點、熱焓。
2、TGA-GCMS﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的質譜圖,可選取特定溫度點進行質譜解析,透過資料庫比對解析未知物成分,亦可同時提供TGA/DSC分析 - 資訊。
3、TGA-FTIR﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的紅外光譜圖,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。
-
- 儀器代碼 ESCA00001600
- 儀器名稱 HRXPS 高解析電子能譜儀
- 服務項目
- 儀器為PHI Quantera II,其X-ray最小直徑可達7.5µm,搭配二次電子影像圖,可以精準量測到特定的樣品區域。
1、材料表面分析﹕全譜圖測量(Survey Scan,提供定性分析)及單元素細掃(narrow scan,用於定量分析及化學位移分析),樣品載台為7.5cmx7.5cm,樣品送測數量可接 - 受多達20個(建議樣品尺寸小於1cm以下)。
2、縱深分析(Depth profile),提供Ar及GCIB (Ar Gas Cluster Ion Beam) 兩種離子源濺蝕。使用Ar濺蝕,樣品約可測量3~6個/次(視薄膜厚度及待測元素多寡而定), - GCIB則限制送測2個/次。
3、元素分析影像圖Mapping,測量樣品區域之元素分佈影像。
4、Angle resolved analysys,角度為5º~90º,改變不同之角度,可以得到不同深度之圖譜。此分析之樣品載台較小,可接受之樣品為6~8個。
-
- 儀器代碼 ICP000300
- 儀器名稱 ICP-OES 感應耦合電漿放射光譜儀
- 服務項目
- 1、能快速測定樣品中主、副成分及微量成分之元素濃度。
2、全波長連續光譜/所有譜線同步讀取。
3、波長範圍-167-785nm。
4、不需氮氣吹掃光學系統即可分析低波長。
5、採冷椎介面(CCI)移除電漿尾部低溫干擾區之設計。
6、全自動火炬X、Y軸調整功能。
-
- 儀器代碼 ICP000200
- 儀器名稱 ICP-MS 感應耦合電漿質譜分析儀
- 服務項目
- 1、在複雜的樣品基質中,能增强干擾消除,提高元素的檢測限,可快速分析樣品中各種微量元素之濃度及同位素之測定。
2、半定量分析﹕提供元素的濃度範圍,如0.1ppb-100ppb。
3、定量分析﹕提供樣品準確的分析數據。
4、同位素測定﹕提供微量元素的同位素比。
5、可測定75個元素,有60個以上元素的偵測極限可低達0.01ppb。
-
- 儀器代碼 EPMA000200
- 儀器名稱 FE-EPMA 場發射電子微探儀
- 服務項目
- 1、表面形貌、表面起伏之照片或原子序對比成像之照片。
a. SEI (Secondary Electron Image)影像﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
b. BEI-Compo (Backscattered Electron Image-composition)影像﹕呈現畫面中原子序之明暗對比。
c. BEI-Topo (Topography)﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
2、EPMA分析﹕次微米等級之空間解析度下,可進行定性、半定量分析、元素分布分析(線掃描、區域掃描、X-ray color mapping)、元素組成定量分析。
-
- 儀器代碼 XRD005400
- 儀器名稱 HPXRD 高功率多功能X光繞射儀
- 服務項目
- 1、材料之晶體結構(Phase ID)、晶格常數(Lattice Parameter)、定性分析(Crystal Qualitative Analysis)。
2、本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體,可針對多層薄膜作膜厚(Thinckness)、密度(Density);針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚(Thinckness)、 - 組成比(Compound Ratio)分析。
-
- 儀器代碼 ESCA002100
- 儀器名稱 AES/ESCA 歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
- 服務項目
- 1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
3、ESCA化學位移(chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。
4、ESCA depth profile(縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
5、ESCA GCIB depth profile﹕以Ar離子團簇蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
6、ESCA Mapping(元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
7、ESCA Line Scan(線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
8、ESCA變溫分析﹕-120°C ~ +500°C變溫分析。
9、Auger微區表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
10、Auger微區表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
11、Auger depth profile(微區縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
12、Auger Mapping(微區元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
13、Auger Line Scan(微區線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
14、Auger微區變溫分析﹕-120°C ~ +500°C變溫分析。
15、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valence band和功函數。
16、LEIPS(低能量反光電子掃描)﹕與UPS圖譜結合,可測出band gap。
-
- 儀器代碼 ESCA000300
- 儀器名稱 ESCA 化學分析電子能譜儀
- 服務項目
- 1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
3、ESCA化學位移 (chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。
4、ESCA depth profile (縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
5、ESCA C60 depth profile﹕以C60離子蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
6、ESCA Mapping (元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
7、ESCA Line Scan (線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
8、ESCA變溫分析﹕-120° C ~ +500° C變溫分析。
9、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valance band和功函數。
-
- 儀器代碼 EM023400
- 儀器名稱 UHRTEM 場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
- 服務項目
- 1、提供200 KV及80 KV低加速電壓樣品分析。
2、顯微結構分析;電子繞射圖分析;高解析原子成像分析。TEM及STEM明、暗視野影像 (STEM Mode: 0.1 nm or less,at 200 KV)。
3、電子能量散譜儀EDS可進行材料微區之定性與半定量及點、線、面元素分佈分析。
-
- 儀器代碼 EM001800
- 儀器名稱 HRTEM 高解像能電子顯微鏡
- 服務項目
- 1、高解析穿透式電子顯微鏡影像(HRTEM)﹕解析度達0.10nm,可有效分辨繞射成像晶面之面間距差異。
2、掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)﹕操作電壓200KV影像解析度達0.14nm,可獲取原子等級之高解析影像。
3、能量散佈分析儀(EDS)﹕可提供微區分析元素的定性及半定量mapping/linescan分析。
4、電子能量損失能譜(EELS)﹕可提供輕元素定性分析。
-
- 儀器代碼 EM002100
- 儀器名稱 SPM 掃描探針顯微鏡
- 服務項目
- 1、樣品表面形貌、薄膜厚度與粗糙度量測。
2、樣品表面電性(EFM、TUNA、KPFM)、磁性(MFM)與壓電性質量測(PFM)、力曲線量測(QNM)。
3、PL、Raman光譜量測與Mapping、時間解析PL量測;SPM整合光學分析量測。
-
- 儀器代碼 EM002900
- 儀器名稱 HRFEGSEM 高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
- 服務項目
- 1、FEG-SEM 比較傳統 SEM,在光源(FEG)和透鏡系統的改良,可有更佳的表面形貌影像分辨率,加上 EDX 附件可作微區成份分佈的分析。
2、加速電壓﹕0.1kV ~ 30kV。
3、電子光源﹕In-lens Schottky Field Emission Electron Gun。
4、放大倍率﹕x 10 ~ x 1000k。
5、SEI解析度﹕1.0 nm (at 15kV)、1.3 nm (at 1kV)。
-
- 儀器代碼 SQUID000300
- 儀器名稱 SQUID 超導量子干涉元件磁量儀
- 服務項目
- 1、超導材料、磁性材料、順磁或逆磁之磁性測量。
2、定磁場下之磁化強度測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
3、定溫下之磁滯曲線測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
-
- 儀器代碼 NMR005500
- 儀器名稱 BioNMR850 生物型核磁共振儀
- 服務項目
- 20 Tesla 超導磁場,氫核子共振頻率為850 MHz。
1、Triple resonance probe with gradient 1H 13C 15N (5mm)。
2、Cryo Probe。
-
- 儀器代碼 EM004000
- 儀器名稱 HC-TEM 生物型穿透式電子顯微鏡
- 服務項目
- 1、一般生醫樣品包括細胞、細菌、生物組織、檢體、病毒與蛋白質等,經由負染色或樣品前置處理、超薄切片後,做顯微影像觀察。
2、高分子、有機材料、複合材料等軟物質之微細結構觀察。
3、奈米粒子、金屬、陶磁材料、觸媒、環境工程、半導體產業、光電產業等不需超高解析之材料試樣內部的形態觀察。
4、在室內光線下以CCD觀察,數位照相系統直接影相擷取、無須沖片。
-
- 儀器代碼 XRD002000
- 儀器名稱 MCI-Xray X光生物巨分子單晶繞射儀
- 服務項目
- 1、測量生物巨分子(蛋白質)單晶繞射數據,用以分析蛋白質之結構。
-
- 儀器代碼 BIO002900
- 儀器名稱 CMS 共軛焦顯微鏡系統
- 服務項目
- 1、螢光標定之玻片樣本影像擷取、螢光三維影像擷取、縮時影像擷取。
2、大範圍拼圖影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取。
3、活細胞控溫系統、長時間自動追焦攝影、技術員偕同操作影像擷取服務。