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國立清華大學貴重儀器使用中心各項儀器服務項目
- 最後更新日期﹕110年10月18日
化學組
儀器名稱 服務項目
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SolidNMR
固態核磁共振光譜儀
1、1D,2D光譜及變溫實驗,以量測化合物分子結構的定性、定量分析。
2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的有機、無機、生化、高分子、高能材料、染料、醫藥、沸石結構晶體和進行材料相轉變及土壤地質成份等的研究。
- -
NMR500
高磁場核磁共振儀
1、1D,2D光譜,擴散係數及變溫實驗。
2、量測化合物分子結構。
3、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、染料、製藥等等的樣品。
- -
NMR700
超高磁場核磁共振儀
1、量測可溶化學溶劑的化合物分子結構1D,2D,3D的光譜。
2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成高分子、染料、製藥等的樣品。
- -
HPLC/MS-MS
高性能液相層析串聯質譜儀
1、定性分析﹕一般高、低解析化合物分子量測定,搭配紫外光偵測器。
2、定量分析﹕
(1)、建立定量方法﹕利用HPLC/MS建立定量方法。
(2)、檢量線分析﹕將不同已知濃度之標準品進行檢測。
- -
HRMS
高解析質譜儀
1、EI,FAB游離法之一般解析度質譜測定。
2、EI,FAB游離法之高解析度質譜測定及計算精確分子量和分子式。
3、應用在各界有機無機合成,藥化,天然物,材料,觸媒,農化,醫學,生化等樣品。
- -
TOF-SIMS
二次離子質譜儀
1、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
2、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
3、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
- -
EPR
電子順磁共振光譜儀
主要測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜
1、測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜。
2、120K-373K變溫測量。
3、在汞燈照射下自由基的生成衰變情形。
4、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、電子、環工等等的樣品。
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FTIR
霍氏轉換紅外光譜儀
1、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
2、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
3、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
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SXRD
X光單晶繞射儀
1、晶格常數測定。
2、單晶繞射數據收集。
3、晶體結構解析。
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TA
熱分析設備
1、TGA/DSC分析﹕測試材料熱穩定性、有機無機組成比例、熱裂解溫度、裂解動力學、材料熔點、玻璃轉化溫度、熔點、熱焓。
2、TGA-GCMS﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的質譜圖,可選取特定溫度點進行質譜解析,透過資料庫比對解析未知物成分,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。
3、TGA-FTIR﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的紅外光譜圖,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。
- -
HRXPS
高解析電子能譜儀
儀器為PHI Quantera II,其X-ray最小直徑可達7.5µm,搭配二次電子影像圖,可以精準量測到特定的樣品區域。
1、材料表面分析﹕全譜圖測量(Survey Scan,提供定性分析)及單元素細掃(narrow scan,用於定量分析及化學位移分析),樣品載台為7.5cmx7.5cm,樣品送測數量可接受多達20個(建議樣品尺寸小於1cm以下)。
2、縱深分析(Depth profile),提供Ar及GCIB (Ar Gas Cluster Ion Beam) 兩種離子源濺蝕。使用Ar濺蝕,樣品約可測量3~6個/次(視薄膜厚度及待測元素多寡而定),GCIB則限制送測2個/次。
3、元素分析影像圖Mapping,測量樣品區域之元素分佈影像。
4、Angle resolved analysys,角度為5º~90º,改變不同之角度,可以得到不同深度之圖譜。此分析之樣品載台較小,可接受之樣品為6~8個。
- -
ICP-OES
感應耦合電漿放射光譜儀
1、能快速測定樣品中主、副成分及微量成分之元素濃度。
2、全波長連續光譜/所有譜線同步讀取。
3、波長範圍-167-785nm。
4、不需氮氣吹掃光學系統即可分析低波長。
5、採冷椎介面(CCI)移除電漿尾部低溫干擾區之設計。
6、全自動火炬X、Y軸調整功能。
- -
ICP-MS
感應耦合電漿質譜分析儀
1、在複雜的樣品基質中,能增强干擾消除,提高元素的檢測限,可快速分析樣品中各種微量元素之濃度及同位素之測定。
2、半定量分析﹕提供元素的濃度範圍,如0.1ppb-100ppb。
3、定量分析﹕提供樣品準確的分析數據。
4、同位素測定﹕提供微量元素的同位素比。
5、可測定75個元素,有60個以上元素的偵測極限可低達0.01ppb。
- -
材料組
儀器名稱 服務項目
- -
FE-EPMA
場發射電子微探儀
1、表面形貌、表面起伏之照片或原子序對比成像之照片。
(1)、SEI(Secondary Electron Image)影像﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
(2)、BEI-Compo(Backscattered Electron Image-composition)影像﹕呈現畫面中原子序之明暗對比。
(3)、BEI-Topo(Topography)﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
2、EPMA分析﹕次微米等級之空間解析度下,可進行定性、半定量分析、元素分布分析(線掃描、區域掃描、X-ray color mapping)、元素組成定量分析。
- -
XRPD
X光粉末繞射儀
1、材料之晶體結構(Phase ID)、晶格常數(Lattice Parameter)、定性分析(Crystal Qualitative Analysis)。
2、本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體,可針對多層薄膜作膜厚(Thinckness)、密度(Density);針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚(Thinckness)、組成比(Compound Ratio)分析。
- -
Nano-Auger
奈米級歐傑電子能譜儀
1、Auger表面定性分析(Survey Scan)﹕鑑定樣品表面元素成份。
2、Auger表面定量分析(Multiplex Scan)﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
3、微區分析﹕分析樣品表面微小區域元素成份(可達奈米尺度)。
4、元素影像掃描(Mapping)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
5、表面線掃描分析(Line Scan)﹕樣品表面線掃描分析。
6、縱深分析(Depth Profile)﹕樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
7、Fracture分析﹕破裂面cross section分析。
- -
ESCA
化學分析電子能譜儀
1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
3、ESCA化學位移 (chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。
4、ESCA depth profile (縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
5、ESCA C60 depth profile﹕以C60離子蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
6、ESCA Mapping (元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
7、ESCA Line Scan (線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。 8、ESCA變溫分析﹕-120° C ~ +500° C變溫分析。 9、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valance band和功函數。
- -
UHRTEM
場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
1、提供200KV及80KV低加速電壓樣品分析。
2、顯微結構分析;電子繞射圖分析;高解析原子成像分析。TEM及STEM明、暗視野影像(STEM Mode: 0.1 nm or less,at 200 KV)。
3、電子能量散譜儀EDS可進行材料微區之定性與半定量及點、線、面元素分佈分析。
- -
HRTEM
高解像能電子顯微鏡
1、高解析穿透式電子顯微鏡影像(HRTEM)﹕解析度達0.10nm,可有效分辨繞射成像晶面之面間距差異。
2、掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)﹕操作電壓200KV影像解析度達0.14nm,可獲取原子等級之高解析影像。
3、能量散佈分析儀(EDS)﹕可提供微區分析元素的定性及半定量mapping/linescan分析。
4、電子能量損失能譜(EELS)﹕可提供輕元素定性分析。
- -
SPM
掃描探針顯微鏡
1、樣品表面形貌、薄膜厚度與粗糙度量測。
2、樣品表面電性(EFM、TUNA、KPFM)、磁性(MFM)與壓電性質量測(PFM)、力曲線量測(QNM)。
3、PL、Raman光譜量測與Mapping、時間解析PL量測;SPM整合光學分析量測。
- -
HRFEGSEM
高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
1、FEG-SEM 比較傳統 SEM,在光源(FEG)和透鏡系統的改良,可有更佳的表面形貌影像分辨率,加上 EDX 附件可作微區成份分佈的分析。
2、加速電壓﹕0.1kV ~ 30kV。
3、電子光源﹕In-lens Schottky Field Emission Electron Gun。
4、放大倍率﹕x 10 ~ x 1000k。
5、SEI解析度﹕1.0 nm (at 15kV)、1.3 nm (at 1kV)。
- -
物理組
儀器名稱 服務項目
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SQUID
超導量子干涉元件磁量儀
1、超導材料、磁性材料、順磁或逆磁之磁性測量。
2、定磁場下之磁化強度測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
3、定溫下之磁滯曲線測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
- -
LIQHE
氦液化系統
1、提供穩定液態氦。
2、回收氣體純化至4N5。
3、液氦桶槽抽真空及降溫。
- -
生科組
儀器名稱 服務項目
- -
BioNMR850
生物型核磁共振儀
20 Tesla 超導磁場,氫核子共振頻率為850 MHz
1、Triple resonance probe with gradient 1H 13C 15N (5mm)。
2、Cryo Probe。
- -
BioTEM
生物型穿透式電子顯微鏡
1、一般生物樣品包括細胞、細菌、生物組織、檢體、病毒與蛋白質等,經由負染色或樣品前置處理、超薄切片後,做顯微影像觀察。
2、高分子、有機材料、複合材料、金屬、奈米粒子及薄膜試片等之微細結構觀察。
3、在室內光線下以CCD觀察,數位照相系統直接影相擷取、無須沖片。
- -
MCI-Xray
X光生物巨分子單晶繞射儀
1、測量生物巨分子(蛋白質)單晶繞射數據,用以分析蛋白質之結構。
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CMS
共軛焦顯微鏡系統
1、螢光標定之玻片樣本影像擷取、螢光三維影像擷取、縮時影像擷取。
2、大範圍拼圖影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取。
3、活細胞控溫系統、長時間自動追焦攝影、技術員偕同操作影像擷取服務。
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服務項目一覽表

本中心服務項目一覽表

 

  • 儀器代碼  NMR000200
    儀器名稱  SolidNMR  固態核磁共振光譜儀  
    服務項目
    1、1D,2D光譜及變溫實驗,以量測化合物分子結構的定性、定量分析。
    2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的有機、無機、生化、高分子、高能材料、染料、醫藥、沸石結構晶體和進行材料相轉變及土壤地質成份等的
          研究。
  • 儀器代碼  NMR001200
    儀器名稱  NMR500  高磁場核磁共振儀
    服務項目
    1、1D,2D光譜,擴散係數及變溫實驗。
    2、量測化合物分子結構。
    3、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、染料、製藥等等的樣品。
  • 儀器代碼  NMR000004600
    儀器名稱  NMR700  超高磁場核磁共振儀
    服務項目
    1、量測可溶化學溶劑的化合物分子結構1D,2D,3D的光譜。
    2、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成高分子、染料、製藥等的樣品。
  • 儀器代碼  MS006700
    儀器名稱  HPLC/MS-MS  高性能液相層析串聯質譜儀
    服務項目
    1、定性分析﹕一般高、低解析化合物分子量測定,搭配紫外光偵測器。
    2、定量分析﹕
    (1).建立定量方法﹕利用HPLC/MS建立定量方法。
    (2).檢量線分析﹕將不同已知濃度之標準品進行檢測。
  • 儀器代碼  MS001300
    儀器名稱  HRMS  高解析質譜儀
    服務項目
    1、EI,FAB游離法之一般解析度質譜測定。
    2、EI,FAB游離法之高解析度質譜測定及計算精確分子量和分子式。
    3、應用在各界有機無機合成,藥化,天然物,材料,觸媒,農化,醫學,生化等樣品。
  • 儀器代碼  MS000900
    儀器名稱  TOF-SIMS  二次離子質譜儀
    服務項目
    1、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
    2、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
    3、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
  • 儀器代碼  EPR000700
    儀器名稱  EPR  電子順磁共振光譜儀
    服務項目
    主要測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜
    1、測定具未成對電子之自由基或順磁性物質的電子順磁共振光譜。
    2、120K-373K變溫測量。
    3、在汞燈照射下自由基的生成衰變情形。
    4、應用範疇﹕接受來自學術界、研究單位及工商業界的生化、有機及無機合成、高分子、電子、環工等等的樣品。
  • 儀器代碼  VM000300
    儀器名稱  FTIR  霍氏轉換紅外光譜儀
    服務項目
    1、一般測量樣品之紅外吸收光譜,亦可延伸其偵測光區至遠紅外線,近紅外線及可見光區。
    2、可分段量測10~10000cm-1之吸收光譜,一般IR在500~4000cm-1之間。
    3、解析度最高可達0.06cm-1,再現性優於0.5%。
  • 儀器代碼  XRD003500
    儀器名稱  SXRD  X光單晶繞射儀
    服務項目
    1、晶系、晶格常數的測定。
    2、初步結構鑑定。
    3、單晶繞射數據的測定。
    4、晶體結構解析。
  • 儀器代碼  TA000200
    儀器名稱  TA  熱分析設備
    服務項目
    1、TGA/DSC分析﹕測試材料熱穩定性、有機無機組成比例、熱裂解溫度、裂解動力學、材料熔點、玻璃轉化溫度、熔點、熱焓。
    2、TGA-GCMS﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的質譜圖,可選取特定溫度點進行質譜解析,透過資料庫比對解析未知物成分,亦可同時提供TGA/DSC分析
          資訊。
    3、TGA-FTIR﹕測量樣品熱分析過程所伴隨產生之裂解產物的紅外光譜圖,亦可同時提供TGA/DSC分析資訊。
  • 儀器代碼  ESCA00001600
    儀器名稱  HRXPS  高解析電子能譜儀
    服務項目
    儀器為PHI Quantera II,其X-ray最小直徑可達7.5µm,搭配二次電子影像圖,可以精準量測到特定的樣品區域。
    1、材料表面分析﹕全譜圖測量(Survey Scan,提供定性分析)及單元素細掃(narrow scan,用於定量分析及化學位移分析),樣品載台為7.5cmx7.5cm,樣品送測數量可接
          受多達20個(建議樣品尺寸小於1cm以下)。
    2、縱深分析(Depth profile),提供Ar及GCIB (Ar Gas Cluster Ion Beam) 兩種離子源濺蝕。使用Ar濺蝕,樣品約可測量3~6個/次(視薄膜厚度及待測元素多寡而定),
          GCIB則限制送測2個/次。
    3、元素分析影像圖Mapping,測量樣品區域之元素分佈影像。
    4、Angle resolved analysys,角度為5º~90º,改變不同之角度,可以得到不同深度之圖譜。此分析之樣品載台較小,可接受之樣品為6~8個。
  • 儀器代碼  ICP000300
    儀器名稱  ICP-OES  感應耦合電漿放射光譜儀
    服務項目
    1、能快速測定樣品中主、副成分及微量成分之元素濃度。
    2、全波長連續光譜/所有譜線同步讀取。
    3、波長範圍-167-785nm。
    4、不需氮氣吹掃光學系統即可分析低波長。
    5、採冷椎介面(CCI)移除電漿尾部低溫干擾區之設計。
    6、全自動火炬X、Y軸調整功能。
  • 儀器代碼  ICP000200
    儀器名稱  ICP-MS  感應耦合電漿質譜分析儀
    服務項目
    1、在複雜的樣品基質中,能增强干擾消除,提高元素的檢測限,可快速分析樣品中各種微量元素之濃度及同位素之測定。
    2、半定量分析﹕提供元素的濃度範圍,如0.1ppb-100ppb。
    3、定量分析﹕提供樣品準確的分析數據。
    4、同位素測定﹕提供微量元素的同位素比。
    5、可測定75個元素,有60個以上元素的偵測極限可低達0.01ppb。
  • 儀器代碼  EPMA000200
    儀器名稱  FE-EPMA  場發射電子微探儀
    服務項目
    1、表面形貌、表面起伏之照片或原子序對比成像之照片。
        a. SEI (Secondary Electron Image)影像﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
        b. BEI-Compo (Backscattered Electron Image-composition)影像﹕呈現畫面中原子序之明暗對比。
        c. BEI-Topo (Topography)﹕可呈現物體表面之起伏與形貌。
    2、EPMA分析﹕次微米等級之空間解析度下,可進行定性、半定量分析、元素分布分析(線掃描、區域掃描、X-ray color mapping)、元素組成定量分析。
  • 儀器代碼  XRD005400
    儀器名稱  HPXRD  高功率多功能X光繞射儀
    服務項目
    1、材料之晶體結構(Phase ID)、晶格常數(Lattice Parameter)、定性分析(Crystal Qualitative Analysis)。
    2、本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體,可針對多層薄膜作膜厚(Thinckness)、密度(Density);針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚(Thinckness)、
          組成比(Compound Ratio)分析。
  • 儀器代碼  ESCA002100
    儀器名稱  AES/ESCA  歐傑暨化學分析電子掃描微探儀
    服務項目
    1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
    2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
    3、ESCA化學位移(chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。
    4、ESCA depth profile(縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
    5、ESCA GCIB depth profile﹕以Ar離子團簇蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
    6、ESCA Mapping(元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
    7、ESCA Line Scan(線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
    8、ESCA變溫分析﹕-120°C ~ +500°C變溫分析。
    9、Auger微區表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
    10、Auger微區表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
    11、Auger depth profile(微區縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
    12、Auger Mapping(微區元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
    13、Auger Line Scan(微區線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
    14、Auger微區變溫分析﹕-120°C ~ +500°C變溫分析。
    15、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valence band和功函數。
    16、LEIPS(低能量反光電子掃描)﹕與UPS圖譜結合,可測出band gap。
  • 儀器代碼  ESCA000300
    儀器名稱  ESCA  化學分析電子能譜儀
    服務項目
    1、ESCA表面定性分析﹕鑑定樣品表面元素成份。
    2、ESCA表面定量分析﹕樣品表面元素之相對原子濃度百分比。
    3、ESCA化學位移 (chemical shift)﹕分析元素鍵結狀態。
    4、ESCA depth profile (縱深分析)﹕以Ar離子蝕刻,量測樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
    5、ESCA C60 depth profile﹕以C60離子蝕刻,量測有機物樣品表面至內部之元素成份縱深分佈。
    6、ESCA Mapping (元素影像掃描)﹕擷取元素在樣品表面之二維分布影像圖。
    7、ESCA Line Scan (線掃描分析)﹕樣品表面線掃描分析。
    8、ESCA變溫分析﹕-120° C ~ +500° C變溫分析。
    9、UPS(紫外光光電子掃描)﹕量測Valance band和功函數。
  • 儀器代碼  EM023400
    儀器名稱  UHRTEM  場發射掃描穿透式球差修正電子顯微鏡
    服務項目
    1、提供200 KV及80 KV低加速電壓樣品分析。
    2、顯微結構分析;電子繞射圖分析;高解析原子成像分析。TEM及STEM明、暗視野影像 (STEM Mode: 0.1 nm or less,at 200 KV)。
    3、電子能量散譜儀EDS可進行材料微區之定性與半定量及點、線、面元素分佈分析。
  • 儀器代碼  EM001800
    儀器名稱  HRTEM  高解像能電子顯微鏡
    服務項目
    1、高解析穿透式電子顯微鏡影像(HRTEM)﹕解析度達0.10nm,可有效分辨繞射成像晶面之面間距差異。
    2、掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)﹕操作電壓200KV影像解析度達0.14nm,可獲取原子等級之高解析影像。
    3、能量散佈分析儀(EDS)﹕可提供微區分析元素的定性及半定量mapping/linescan分析。
    4、電子能量損失能譜(EELS)﹕可提供輕元素定性分析。
  • 儀器代碼  EM002100
    儀器名稱  SPM  掃描探針顯微鏡
    服務項目
    1、樣品表面形貌、薄膜厚度與粗糙度量測。
    2、樣品表面電性(EFM、TUNA、KPFM)、磁性(MFM)與壓電性質量測(PFM)、力曲線量測(QNM)。
    3、PL、Raman光譜量測與Mapping、時間解析PL量測;SPM整合光學分析量測。
  • 儀器代碼  EM002900
    儀器名稱  HRFEGSEM  高解析熱場發射掃描式電子顯微鏡
    服務項目
    1、FEG-SEM 比較傳統 SEM,在光源(FEG)和透鏡系統的改良,可有更佳的表面形貌影像分辨率,加上 EDX 附件可作微區成份分佈的分析。
    2、加速電壓﹕0.1kV ~ 30kV。
    3、電子光源﹕In-lens Schottky Field Emission Electron Gun。
    4、放大倍率﹕x 10 ~ x 1000k。
    5、SEI解析度﹕1.0 nm (at 15kV)、1.3 nm (at 1kV)。
  • 儀器代碼  SQUID000300
    儀器名稱  SQUID  超導量子干涉元件磁量儀
    服務項目
    1、超導材料、磁性材料、順磁或逆磁之磁性測量。
    2、定磁場下之磁化強度測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
    3、定溫下之磁滯曲線測量﹕溫度範圍1.8K~400K,磁場範圍0 Oe~±70000 Oe。
  • 儀器代碼  NMR005500
    儀器名稱  BioNMR850  生物型核磁共振儀
    服務項目
    20 Tesla 超導磁場,氫核子共振頻率為850 MHz。
    1、Triple resonance probe with gradient 1H 13C 15N (5mm)。
    2、Cryo Probe。
  • 儀器代碼  EM004000
    儀器名稱  HC-TEM  生物型穿透式電子顯微鏡
    服務項目
    1、一般生醫樣品包括細胞、細菌、生物組織、檢體、病毒與蛋白質等,經由負染色或樣品前置處理、超薄切片後,做顯微影像觀察。
    2、高分子、有機材料、複合材料等軟物質之微細結構觀察。
    3、奈米粒子、金屬、陶磁材料、觸媒、環境工程、半導體產業、光電產業等不需超高解析之材料試樣內部的形態觀察。
    4、在室內光線下以CCD觀察,數位照相系統直接影相擷取、無須沖片。
  • 儀器代碼  XRD002000
    儀器名稱  MCI-Xray  X光生物巨分子單晶繞射儀
    服務項目
    1、測量生物巨分子(蛋白質)單晶繞射數據,用以分析蛋白質之結構。
  • 儀器代碼  BIO002900
    儀器名稱  CMS  共軛焦顯微鏡系統
    服務項目
    1、螢光標定之玻片樣本影像擷取、螢光三維影像擷取、縮時影像擷取。
    2、大範圍拼圖影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取、超解析共軛焦螢光影像擷取。
    3、活細胞控溫系統、長時間自動追焦攝影、技術員偕同操作影像擷取服務。

 

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