• 儀器開放年度：2023年
• 廠牌及型號：D8 discover plus, Bruker
• 重要規格：18KW Rotating Anode Cu Target
• 儀器性能：
  除了一般傳統X光繞射量測實驗，可作材料之晶體結構（Phase ID）、晶格常數（Lattice Parameter）、定性分析（Crystal Qualitative Analysis）之外，本設備搭配不同掃瞄模式及分析軟體，可針對多層薄膜作膜厚（Thinckness）、密度（Density）；針對單晶或磊晶結構薄膜作膜厚（Thinckness）、組成比（Compound Ratio）分析。

收費標準﹕

1.基本費：500元/次
2.自行操作：150元(每20分累計)

廣角繞射(WAG)/低掠角薄膜繞射(GIXRD)：
　1.計畫委託操作：250元/件(量測費用) + 250元/小時(時段費用，累計)
　2.非計畫委託操作：1000元/件(量測費用) + 1000元/小時(時段費用，累計)
　3.上述量測費用每件計20分鐘，超時累計
　4.委託操作每次量測可折抵一小時基本費

IP/XRR/HRXRD/RSM/Residual stress/pole figure：
　1.計畫委託操作：300元/件(量測費用) + 250元/小時(時段費用，累計)
　2.非計畫委託操作：1500元/件(量測費用) + 1000元/小時(時段費用，累計)
　3.上述量測費用每件計20分鐘，超時累計
　4.委託操作每次量測可折抵一小時基本費

變溫XRD：
　1.不開放自行操作
　2.基本費(計畫委託：1000元/次；非計畫委託：2000元/次)
　3.計畫委託操作：500元/30分(時段費用，累計)
　4.非計畫委託操作：2500元/30分(時段費用，累計)
　5.高溫費用(超過1000度)
　　計畫委託：500元/件；非計畫委託：1000元/件
　6.粉末量測溫度範圍從室溫至1400度；薄膜量測溫度範圍從室溫至1100度

 

連絡資訊：
儀器指導教授：廖建能 教授
TEL：(03)5715131 Ext.33843 (Lab：33860)
E-MAIL：cnliao@mx.nthu.edu.tw

 

儀器管理員：張皓凱 博士 /Dr. Haw Kai Chang
TEL：(03)5715131Ext.35415   FAX：(03)5722366
E-MAIL：xrpd_nscric@my.nthu.edu.tw

儀器管理員：林政佑 先生 / Mr. Cheng Yu Lin
TEL：(03)5715131Ext.35415   FAX：(03)5722366
E-MAIL：xrpd_nscric@my.nthu.edu.tw

儀器放置地點：國立清華大學材料科技館材料所125室